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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023. <BB01064086>
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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳. -- ナカニシヤ出版, 2023. <BB01064086>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配架場所 請求記号 資料ID 注記 状態 返却予定日 予約
0001 名古屋図書館 [2階]名図開架 371.7:G36 2023201115555
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No. 0001
巻号
所蔵館 名古屋図書館
配架場所 [2階]名図開架
請求記号 371.7:G36
資料ID 2023201115555
注記
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び / ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
ナンノ タメ ノ テスト : ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
出版・頒布事項 京都 : ナカニシヤ出版 , 2023.3
形態事項 viii, 223p ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784779517044
その他の標題 原タイトル:Beyond the tyranny of testing : relational evaluation in education
学情ID BD00745593
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Gergen, Kenneth J. <AU00006218>
著者標目リンク Gill, Scherto R. <AU00200959>
著者標目リンク 東村, 知子||ヒガシムラ, トモコ <AU00184215>
著者標目リンク 鮫島, 輝美||サメシマ, テルミ <AU00172078>
分類標目 教育学．教育思想 NDC9:371.7
分類標目 教育学．教育思想 NDC10:371.7
分類標目 教育 NDLC:FC63
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ
件名標目等 教育評価||キョウイクヒョウカ
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