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新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

竹谷誠著. -- 早稲田大学出版部, 1991. <BB00186959>
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No. 巻号 所蔵館 配架場所 請求記号 資料ID 注記 状態 返却予定日 予約
0001 豊橋Ctr 豊C[3階] 371.7:Ta68 9321006838
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No. 0001
巻号
所蔵館 豊橋Ctr
配架場所 豊C[3階]
請求記号 371.7:Ta68
資料ID 9321006838
注記
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法 / 竹谷誠著
シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 早稲田大学出版部 , 1991.4
形態事項 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4657914162
注記 文献:p301~309
学情ID BN06351080
著者標目リンク ~竹谷, 誠(1941-)
タケヤ, マコト <>
分類標目 教育学.教育思想 NDC8:371.7
分類標目 NDC7:371.8
分類標目 教育 NDLC:FC63
件名標目等 教育評価