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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00077906>
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論理とテスト

樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]. -- 岩波書店, 1985. -- (岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計 ; 2). <BB00077906>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配架場所 請求記号 資料ID 注記 状態 返却予定日 予約
0001 豊橋図書館 豊図第1書庫3階 #549.08:1:4 8711584386
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No. 0001
巻号
所蔵館 豊橋図書館
配架場所 豊図第1書庫3階
請求記号 #549.08:1:4
資料ID 8711584386
注記
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
ロンリ ト テスト
出版・頒布事項 東京 : 岩波書店 , 1985.5
形態事項 x, 313p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4000101846
書誌構造リンク 岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編||イワナミ コウザ マイクロ エレクトロニクス <BB00753366> 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2//bb
注記 参考書: p303-305
学情ID BN00059257
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 樹下, 行三(1936-)||キノシタ, コウゾウ <AU00055041>
著者標目リンク 浅田, 邦博||アサダ, クニヒロ <AU00055042>
著者標目リンク 唐津, 修(1947-)||カラツ, オサム <AU00055043>
分類標目 電子工学 NDC8:549
分類標目 電子工学 NDC8:549.08
分類標目 NDC7:549.92
分類標目 科学技術 NDLC:ND351
分類標目 科学技術 NDLC:ND386
件名標目等 集積回路||シュウセキカイロ
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